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机械学院举办“芯片测试技术及其产学研合作“学术报告会
2016-06-17 15:36   机械学院 科研办

2016年6月17日下午4点机械学院在工程技术楼A座216邀请Jeff Schulze工程师做了“芯片测试技术及其产学研合作”报告会。  

Jeff Schulze,系统应用工程师,毕业于California State Polytechnic University.从事半导体芯片测试20余年,目前就职于Advantest公司,曾经就职于Broadcast Microwave Services, ClariPhY Communications, and MaxlinearInc.擅长于机器人电气控制系统的系统可靠性测试、数字芯片测试,混频和射频信号的测试。

机械学院师生参加了本次报告会。

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